鍍鋁膜測厚儀由于其測試原理、技術難度、精度量程范圍、使用場合等特殊原因，國內實驗儀器廠家開發此產品的并不多，傳統的機械測試法精度最高端的也只能到微米級。煙包、食品、醫藥、車燈等行業涉及的鍍鋁膜很薄，以埃為單位。精確控制鍍鋁膜的厚度就需要高精度的鍍鋁膜測厚儀，1 微米(μm) = 1 000 納米(nm) = 10000埃，也就是說1納米等于10埃，可見鍍鋁膜測厚儀的精度（食品行業鍍鋁層一般為200-500埃之間）。

鍍鋁膜測厚儀第一代為數碼管顯示，第二代為液晶顯示，此次推出的HP-CHY-L鍍鋁膜測厚儀是最新技術的觸摸屏顯示，為第三代產品，屏幕觸控操作，菜單顯示。除此之外，與之前的相比有以下六點技術升級。

一、HP-CHY-L鍍鋁膜測厚儀采用一種新材料探頭，該探頭對金屬材料尤其是鋁膜層非常敏感，測試精度由原來的10埃提高到1埃。

二、測試區域內除探頭外全部更換為非金屬材料，渦流磁場區域沒有其他金屬，防止干擾。

三、測試墊板選用特殊防靜電材料，避免放置鋁膜或移動鋁膜產生的微小靜電。

四、機殼摒棄原來的45鋼外加烤漆工藝，使用一次成型的型材，美觀高檔耐磨，輕便。

五、校準儀器的標準物質原來使用光盤亮面，現在采用穩定性更高的標準鋁箔作為標準物質。

六、增加方塊電阻顯示，埃和方塊電阻可自由切換顯示，方便不同的標準計量。

以上技術升級均是經過數次的篩選材料，軟件測試，試驗最終確定的技術方案，保證了鍍鋁膜測厚儀的超高精度以及穩定性、重復性。

                                        HP-CHY-L鍍鋁膜測厚儀

該HP-CHY-L鍍鋁膜測厚儀適用于各種鍍鋁膜鋁層厚度的檢測，包括食品煙草軟包裝鋁膜、渦流鍍層、蒸發鋁膜、微薄金屬膜、硅片蒸鋁層、 聲表面波鋁膜、 半導體鋁膜、 車燈鋁膜、塑料薄膜鋁膜等，符合國家標準GB/T4957。鋁膜測厚儀利用渦流原理制造，即被測蒸鋁層靠近高頻激磁磁場時，感應產生渦電流，因而產生渦流磁場，此渦流磁場反作用于原來激磁磁場，阻抗發生變化，然后通過檢測電路并進行放大，輸出與厚度相對應模擬電壓。最終顯示厚度。

  該最新升級的HP-CHY-L鍍鋁膜測厚儀將會憑借其領先的技術廣泛應用到超薄鋁層的測試領域。